Signal 實(shí)驗(yàn)室硅含量元素分析儀

圖庫(kù)

文檔下載

- 測(cè)量原理：

單色波長(zhǎng)色散X射線(xiàn)熒光 (MWD XRF) 技術(shù)采用先進(jìn)的聚焦單色反射鏡，提高了激發(fā)光的強(qiáng)度，與非聚焦和單色光WDXRF技術(shù)相比，改善了信噪比以及檢測(cè)極限和精確度，降低了儀器對(duì)基體效應(yīng)的敏感度。測(cè)量過(guò)程中，來(lái)自第一塊反射鏡的單色聚焦光束打在樣品上，激發(fā)樣品發(fā)射出特征熒光X射線(xiàn)。第二塊單色反射鏡篩選出硅的特征X射線(xiàn)，并將其反射聚焦到探測(cè)器上。MWD XRF是一種直接測(cè)量技術(shù)，不需要輔助氣體或樣品轉(zhuǎn)化。

- 應(yīng)用領(lǐng)域：

? 石油和生物燃料中的總硅含量分析

? 適用于煉油廠(chǎng)、管道終端、添加劑廠(chǎng)和檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室

- 儀器特點(diǎn)：

1）符合ASTM D7757 和NB/SH/T 0993

2）檢測(cè)極限(LOD)：0.65 ppm wt.

3）動(dòng)態(tài)范圍：0.65 ppm wt.到3000 ppm wt.

4）即插即用：使用普通電源

5）觸摸式用戶(hù)界面

6）用戶(hù)可選擇測(cè)量時(shí)間：30-900s

7）75W風(fēng)冷式X光管

8）無(wú)需轉(zhuǎn)換氣體、加熱元件、石英管或管柱